步入式試驗(yàn)室
步入式老化房
- 機(jī)器型號：
- 步入式老化房
- 標(biāo)稱內(nèi)容積：
- 18000L
| 產(chǎn)品介紹
步入式老化房
步入式老化房
- 突出特點(diǎn)：
●冷端控制技術(shù) ●節(jié)能省電高達(dá)35％ ●條形合金焊接樣品層架 ●雙85℃無需啟動壓縮機(jī) ●多層隔熱不起霧和水珠 ●長期做低溫低濕不易結(jié)霜
合作案例
技術(shù)參數(shù)
高溫老化房、煲機(jī)房和燒機(jī)房,是針對高性能電子產(chǎn)品（如：計算機(jī)整機(jī)，顯示器，終端機(jī)，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等）是客戶迅速找出問題、解決問題提供有效手段，充分提高客戶生產(chǎn)效率和產(chǎn)品品質(zhì),也是針對于開關(guān)電源、手機(jī)充電器、電池、LCD、主板機(jī)、掃描器、監(jiān)視器、LED，生物器材等介面卡等做負(fù)載或溫度老化測試的一種設(shè)備，此設(shè)備外框架構(gòu)采用保溫庫板隔間組合而成，配上主配電箱、測試架、溫度控制器、定時器、各種電器開關(guān)、加溫電熱器、盤架、拉門、循環(huán)風(fēng)機(jī)、排風(fēng)機(jī)、插座等設(shè)備模擬出一種高溫、惡劣環(huán)境（40℃ -70℃±5℃、電源ON-OFF動作等），讓產(chǎn)品在此環(huán)境中接上模擬負(fù)載通電運(yùn)作，測試時間可在0-99.9小時內(nèi)任意設(shè)定，通過此測試程序可查出不良品或不良零件，是制程、品管必備之設(shè)備。由于老化房的性能及環(huán)境必須保證產(chǎn)品所需要的溫度、電源質(zhì)量、負(fù)載量、工作時間及操作人員的安全、習(xí)慣等要求，所以，一套合格的老化設(shè)備，應(yīng)該是一套安全可靠，高效節(jié)能、功能齊全和具有可擴(kuò)充性的設(shè)備。
產(chǎn)品用途：廣泛應(yīng)用于電源電子、LED、汽車電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。
適合電子、塑膠制品、電器、儀表、食品、車輛、金屬、化學(xué)、建材、航天、醫(yī)療…等制品檢測質(zhì)量之用。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及方法
步入式高溫老化房擁有6大安全防護(hù)裝置：
1.蜂鳴報警裝置/聲光報警裝置（選配）數(shù)顯可調(diào)獨(dú)立超溫保護(hù)器
2.加熱器超溫保護(hù)開關(guān)
3.一鍵急停開關(guān)（選配）
4.循環(huán)風(fēng)機(jī)過熱保護(hù)裝置
5.系統(tǒng)國電流保護(hù)裝置，接地、漏電短路保護(hù)裝置
6.電源相序、欠相、逆相保護(hù)裝置，附有無熔絲保護(hù)開關(guān)
三、步入式高溫老化房/燒機(jī)房執(zhí)行和滿足標(biāo)準(zhǔn)
GJB360.8-2009(M1L-STD.202F)高溫壽命試驗(yàn)
GJB150.3-2009(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法
GJB360.8-87電子及電氣元件試驗(yàn)方法高溫壽命試驗(yàn)(MIL-STD-202F)
GJB150.3A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)(MIL-STD-810D)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-2:2007，1DT）
標(biāo)準(zhǔn)配置
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型號：步入式老化房
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